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日本Lasertec是一家半导体检测设备的公司，成立于1960年，主要提供半导体（晶圆/光罩）与LCD检测设备，与美国半导体设备厂商KLA具有毫不逊色的技术和产品。
业界首推出混合激光共聚焦显微镜，基于激光加白光的双光学系统，使其可以满足多种测试需求。
激光加白光双光学系统，具有六大功能
白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉、反射分光膜厚测试、相差干涉测试、垂直白光干涉测试
HYBRID 提供高速自动测量，测量速度（15Hz 至 120Hz 帧速率）
自动缺陷检测和缺陷分类
宽度方向可重复性3σ=10nm 高度方向可重复性σ=10nm
可实现3D测量、二维测量、表面粗糙度测量、薄膜厚度测量
固话：010-69798892
鲁工：13910937780（微信同号）
王工：17600738803（微信同号）
传真：010-69798893 邮箱：sales@oelectron.com
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