应力双折射测量系统
应力双折射系统WPA系列

WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶体技术,开发的一款适用性高的应力双折射检测设备,可测量相位差(光程差)高达3500nm,适合注塑成型的透光器件的应力双折射检测,高速而的测量能力受到各大光学厂和研究机构的青睐。数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

产品说明

WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备,通过核心的偏光图像传感器,

可以快速准确的测量透明材料的应力双折射,针对不同产品尺寸,均有可匹配的型号可供选择。


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主要特点

可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布

面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据

具备点、线、面、3D的分析功能

三波长可量测0-3500nm,可拓展至10000nm

可输出光程差(nm)、偏振角度(°)、应力(Mpa)、应力双折射(nm/mm)

规格参数

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实测案例

WPA系列案例.PNG

WPA系列案例-2.PNG

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北京欧屹科技有限公司

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