高精度应力测量，PA-300 & PA-300-L 解锁科研与生产新效能
发布时间：2026-02-06 13:29:43
发布人：小欧
浏览次数：
在光学材料研发、半导体制造、高端器件检测等领域，双折射特性的精准测量是保障产品质量与科研突破的核心环节。Photonic Lattice, Inc. 深耕光学测量技术多年，重磅推出 PA-300 & PA-300-L双折射测量系统，以卓越性能、灵活适配与稳定可靠的表现，重新定义双折射测量标准，为各行业提供全方位测量解决方案。
PA系列的标准型号，具有500万像素的高分辨率，适合测量低相位差的玻璃或无机材料等产品的相位差分布。此外，还能定量分析玻璃镜片热处理前后的应力变化、强化玻璃的应力分布以及激光加工引起的玻璃变形等状态。
PA-300 (-L) 双折射测量系统凭借其高精度、高灵活性、高稳定性的核心优势，广泛适配科研实验室、生产线质检等多元场景。大尺寸光学元件、多片手机盖板同时检测、车载大尺寸透明件，让您的测量工作全程无忧。
选择 PA-300 (-L)，就是选择精准、高效与可靠。无论是推动科研创新的深度探索，还是保障生产质量的严格管控，这款 2D 双折射测量系统都将成为您的得力助手。
欧屹科技为每一台设备提供专业的技术支持与售后服务，让您的测量工作全程无忧。
推荐新闻
