Photonic Lattice 应力双折射测量设备 —— 引领透明材料应力检测新标准
在光学材料与精密制造领域，对透明部件内部应力状态的高精度、全面可视化测量是保证产品质量和稳定性的重要环节。Photonic Lattice, Inc.基于其自主研发的光子晶体偏振成像技术和高分辨率2D偏振成像传感器，推出了一系列应力双折射测量设备，为客户提供快速、精准、可靠的应力评估解决方案。
◆◆ 核心亮点
▼▼高速全二维应力测量
Photonic Lattice的PA/WPA系列设备通过先进的偏振成像传感技术，一次性获取透明样品的二维双折射/相位差分布图像，避免传统点测量的局限，实现现场快速应力检测。
· 实时获取二维数据，测量结果在毫米到几十厘米尺度内全面覆盖
· PA系列适用于低应力双折射（0–130 nm）检测
· WPA系列扩展至高应力范围（高达约3500 nm）测量
▼▼ 精准量化与可视化分析
设备配套的PA/WPA-View软件提供一套功能强大的分析工具，支持：
· 相位差/双折射量与主应力的转换显示
· 多样可视化统计图表、轴向分布图
· 多数据比对与趋势分析，便于质量监控
· 支持导出CSV等标准格式，便于后续数据处理或报告生成
▼▼ 多场景覆盖的测量能力
Photonic Lattice的设备凭借模块化设计和丰富的可选配置，可灵活应对不同的测量需求：
✅ 从微观到宏观 — 可选显微镜视场或大视野视场
✅ 可见光和近红外测量版本 — 可用于透明树脂、特殊材料（如LiDAR组件、红外光学材料）
✅ 产线集成和自动判定 — 支持实时OK/NG判定与自动控制集成
▼▼ 典型应用场景
Photonic Lattice的应力双折射测量设备已广泛用于：
· 光学镜片、玻璃部件、显示面板基板的内部应力评价
· 透明树脂件（如注塑透光部件）应力分布检测
· VR/AR光学元件质量控制
· 晶圆、硅晶体等材料的微观应力缺陷分析
◆◆ 提升品质，驱动创新
借助Photonic Lattice领先的应力双折射测量技术，客户能够：
· 在设计和工艺阶段及早发现应力异常
· 优化制造工艺，提高良品率
· 实现产品性能与可靠性提升
· 在高精密光学和高端制造领域建立稳定的质量控制体系
