应力双折射测量系统
应力双折射系统PA系列

PA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶体技术,针对玻璃、SIC晶圆、蓝宝石等低应力双折射的测量系统,数秒给出被测产品的应力双折射大小和分布信息。

产品简介

PA 系列是Photonic Lattice, Inc.针对高双折射的透明材料开发的光学测量设备,通过核心的偏光图像传感器,

可以快速准确的测量透明材料的应力双折射,针对不同产品尺寸,均有可匹配的型号可供选择。


主要特点

可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布

面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据

具备点、线、面、3D的分析功能

500万像素,高分辨能力

可输出光程差(nm)、偏振角度(°)、应力(Mpa)、应力双折射(nm/mm)


技术参数

pa-系列.PNG

测量案例

PA实测案例1.PNG

PA实测案例2.PNG

北京欧屹科技有限公司

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