硫系,红外树脂等材料对可见光不透过,这样的样品残余应力评估很难实现,为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪,采用850nm或940nm波长,能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布,安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View,可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场
WPA-NIR 主要特点:
实际测量对比: 请咨询我们,010-6979 8892 sales@oelectron.com
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